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Si-EYE深度學習與卷積神經網路-圖像檢測原理與應用

Si-EYE深度學習與卷積神經網路-圖像檢測原理與應用

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出版日期:2020/07/23
出版:智泰科技 / 智泰科技股份有限公司
作者:陳思翰 陳金聖 唐大為
語言:繁體中文(台灣)
頁數:317
ID:201151
產品類型:電子書
檔案格式:EPUB(適合手機)
下載選項:Adobe DRM

原價 NT$ 680
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內容簡介

寫這本書最主要的目的,是要讓大家都能有效快速的學習人工智慧(Artificial Intelligence, AI)的圖像偵測與瑕疵檢測的軟體工具,善用此工具可用來解決諸多產業面向的問題及創造不可思議的價值。AI的應用非常廣泛,本書聚焦在智慧機械方面的應用,涉及自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)以及AI兩大區塊,兼具理論與實務的應用。在理論方面,智泰科技(3DFamily)邀請國內權威的學者專家撰寫有關AOI與AI的原理及發展沿革,而在實務應用上,更動員智泰科技的研發團隊,將多年來在AI與AOI整合應用獨到的研發成果,名為智能偵測 (Smart Inspection, SI),在實用案例中提供眾多圖片作為實作演練的教材,這讓讀者更能真正瞭解AI在圖像及檢測領域的價值,同時更簡易、更快速的熟練如何操作這套SI-EYE®檢測的應用軟體。

作者介紹

陳思翰
現職
明志科技大學工業工程與管理系副教授
人工智慧暨資料科學研究中心副主任
學歷
國立交通大學工業工程與管理學系博士
國立台北科技大學工業工程與管理系碩士
經歷
台塑總管理處工程機電審核組企業深耕教師
國立台灣大學機械工程學系與
圖書資訊學系博士後研究員(研發替代役)

陳金聖
現職
台北科技大學自動化科技研究所特聘教授
學歷
交通大學機械工程博士
經歷
群光-北科研發中心主任
台北科技大學自動化科技研究所所長
台北科技大學研發處研究企劃組組長
台北科技大學研發處產學合作組組長
東捷科技股份有限公司研發部經理
東元電機股份有限公司研發部經理

唐大為
現職
國立台灣大學機械工程研究所博士候選人
智泰科技兼任軟體工程師
學歷
國立台灣大學機械工程學系
經歷
智慧機械產學接軌計畫企業講師
神農資訊實習軟體工程師

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