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Si-EYE深度學習與卷積神經網路-圖像檢測原理與應用

Si-EYE深度學習與卷積神經網路-圖像檢測原理與應用

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出版日期:2020/07/22
出版:智泰科技 / 智泰科技股份有限公司
作者:智泰科技
語言:繁體中文(台灣)
頁數:316
ID:201057
產品類型:電子書
檔案格式:PDF(適合平板)
下載選項:Adobe DRM

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內容簡介

寫這本書最主要的目的,是要讓大家都能有效快速的學習人工智慧(Artificial Intelligence, AI)的圖像偵測與瑕疵檢測的軟體工具,善用此工具可用來解決諸多產業面向的問題及創造不可思議的價值。AI的應用非常廣泛,本書聚焦在智慧機械方面的應用,涉及自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)以及AI兩大區塊,兼具理論與實務的應用。在理論方面,智泰科技(3DFamily)邀請國內權威的學者專家撰寫有關AOI與AI的原理及發展沿革,而在實務應用上,更動員智泰科技的研發團隊,將多年來在AI與AOI整合應用獨到的研發成果,名為智能偵測 (Smart Inspection, SI),在實用案例中提供眾多圖片作為實作演練的教材,這讓讀者更能真正瞭解AI在圖像及檢測領域的價值,同時更簡易、更快速的熟練如何操作這套SI-EYE®檢測的應用軟體。

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